1. 成斌、叶邦角，一种数字化正电子湮没寿命谱仪装置，2011年申请，公开号CN202216921U（已获实用新型专利授权）。

2. 王海波、叶邦角，一种基于硅光电倍增器（SiPM）的正电子湮没寿命谱仪，2019年申请，公开号CN110082368B（已获发明专利授权）。

3. 董赟、赵秋贺、叶邦角、刘建党、张宏俊，一种数字化反符合多路互为起始正电子湮没寿命谱仪，2021年申请，CN113655513A（实质审查中）。

4. 赵秋贺、董赟、叶邦角、刘建党、张宏俊，一种利用支持向量机进行脉冲甄别的正电子湮没寿命谱仪，2021年申请，CN113721286B（已获发明专利授权）。

5. 赵秋贺、罗迷、叶邦角、刘建党、张宏俊，一种用于测量薄膜样品的正电子湮没寿命谱仪，2021年申请，CN113640852A（实质审查中）。

6. 李钰环、赵秋贺、徐巍、叶邦角、张宏俊、刘建党，一种正电子湮没寿命二维分布测量系统，2023年申请，CN116448798B（已获发明专利授权）。

7. 陈奕文、李钰环、罗迷、刘建党、张宏俊、叶邦角，一种用于微米级薄膜测试的数字化正电子湮没多普勒展宽谱仪及其测试方法，2023年申请，CN116930234A（实质审查中）。

8. 汪美、张文帅、叶邦角，一种二分量第一性原理计算系统与服务方法，2023年申请，CN116909676B（已获发明专利授权）。